x射線檢測設(shè)備是指利用x光射線管產(chǎn)生x射線并利用x光探測器成像，并對所成像進行分析的設(shè)備。x射線檢測設(shè)備的核心是x光射線管及x光探測器。

x射線檢測是常規(guī)無損檢測的重要方法之一，廣泛應(yīng)用于航空、航天、核電、國防、醫(yī)療及其它工業(yè)部門。在工業(yè)生產(chǎn)和國民經(jīng)濟中發(fā)揮了重要作用。

目前，在生活實際中，x射線膠片照相的成像質(zhì)量較高，能正確提供被測試件缺陷真實情況的可靠信息。

x射線設(shè)備又分為2d和2d兩類，2d設(shè)備只能進行指定方向的二維圖像生成，而3d設(shè)備可以對整個物體進行三維模型生成。

x射線形成的原理以及特性

x射線分別為韌致輻射和特征輻射，是由不同的擊發(fā)原理造成的。韌致輻射是指高速電子突然減速產(chǎn)生的輻射。帶電粒子受到庫倫場減速時，損失的動能將會轉(zhuǎn)化為光子發(fā)射出來，這就是韌致輻射所產(chǎn)生的連續(xù)光譜。

特征輻射通過加大加速電壓，電子攜帶的能量增大，則有可能將金屬原子的內(nèi)層電子撞出。于是內(nèi)層形成空穴，外層電子躍遷回內(nèi)層填補空穴，同時放出波長在0.1納米左右的光子。由于外層電子躍遷放出的能量是量子化的，所以放出的光子的波長也集中在某些部分，形成了x光譜中的特征線，以此成為特性輻射。